安捷伦两种新型J&W 气相色谱柱技术终结了颗粒脱落和柱流

对于性气体和轻质烃的分析而言，当 PLOT 色谱柱的固定相颗粒脱落进入气相色谱流路后，将导致您的气相色谱发生高成本的损坏和污染颗粒脱落将引起检测器信号尖峰，从而干扰色谱峰积分类似地，在使用 GC-SCD 进行硫分析时，较高程度的柱流失可能污染检测器陶瓷管，导致检测器信号变差，并由于维护而造成系统停机为此安捷伦开发出了两种新色谱柱技术，以保持您的 GC-TCD/FID 和 GC-SCD 仪器系统长期清洁运行，且能改善系统可靠性并提高工作效率