高低温试验箱测试 U 盘稳定性

对 U 盘进行外观检查，确保无明显损坏。

将 U 盘进行格式化，确保其处于初始状态。

将 U 盘放入高低温试验箱中，设置温度为低温范围的起始温度。

以设定的温度变化速率降温至目标温度，并保持保温时间。

在低温环境下，使用电脑连接 U 盘，进行数据读写操作，检查 U 盘是否能正常识别、读取和写入数据。记录读写速度等性能参数。

观察 U 盘在低温下的外观变化，如是否有变形、开裂等现象。

将试验箱温度调至高温范围的起始温度。

以设定的温度变化速率升温至目标温度，并保持保温时间。

同样在高温环境下进行数据读写操作，检查 U 盘的性能表现。

观察 U 盘在高温下的外观变化。

重复进行多次高低温循环测试，以模拟实际使用中的温度变化情况。

对比不同 U 盘在高低温环境下的性能表现，包括读写速度、数据完整性等。

分析 U 盘在高低温下出现的问题，如无法识别、数据丢失等，并确定可能的原因。

根据测试结果评估 U 盘的质量和可靠性。