【概述】
精密仪器在使用过程中可能会受到各种振动的影响,从而导致性能下降、精度降低甚至损坏,本实验方案旨在利用电磁式振动台模拟不同的振动环境,研究其对精密仪器的振动影响,为精密仪器的设计、包装和使用提供参考依据。
【实验/设备条件】
频率范围:1 - 3000Hz
加速度:50g
位移:51mm(p-p)
激光位移传感器:用于测量仪器的振动位移。
加速度传感器:测量振动加速度。
数据采集系统:采集和分析传感器的数据。
【样品提取】
选取具有代表性的精密仪器,如高精度天平、光学显微镜、激光测距仪等。
每种精密仪器选取至少 3 台。
在实验前,对精密仪器进行校准和性能检测,记录初始数据。
【实验/操作方法】
正弦振动:设置不同的频率和加速度,如 10Hz、50Hz、100Hz 等频率,以及 1g、5g、10g 等加速度。
随机振动:根据相关标准设置功率谱密度(PSD)曲线。
每个振动模式下持续振动 2 小时。
在振动过程中,通过传感器和数据采集系统实时采集仪器的振动位移、加速度等数据。
振动结束后,立即对精密仪器进行性能检测,包括测量精度、重复性、稳定性等指标。
【实验结果/结论】
分析振动位移和加速度数据,评估振动强度和频率对仪器的影响。
对比振动前后精密仪器的性能指标,计算性能变化率。
总结不同振动模式和参数对精密仪器性能的影响规律。
判断精密仪器在何种振动条件下能够保持正常工作,何种条件下会出现性能下降或损坏。
为精密仪器的抗振设计、包装防护和使用环境提供建议。
【仪器/耗材清单】
电磁式振动台
激光位移传感器
加速度传感器
数据采集系统
传感器安装夹具
数据线
标签纸
记录表格