DM6M LIBS 外观检验与元素分析二合一解决方案

2 合 1 系统 — 用于目视和化学分析

目视和化学材料检验二合一，节省 90% 的时间。DM6 M LIBS 解决方案的集成激光光谱功能可提供在显微镜图像中所观察到的化学指纹图谱。利用所有显微镜功能，通过化学分析检查样品和鉴定材料。

1 秒即可获得化学指纹图谱

运用成熟的 LIBS (激光诱导击穿光谱) 技术进行即时元素分析，可在数秒内获得轰击点的化学信息。

将工作流程精简至只有一个步骤，以结果为ZD！

0 — 无需样品制备

找到感兴趣的位置，随后只需单击一下，即可触发 LIBS 分析。

所见即所测！

无需制备和传输样品 — 无需系统调节 — 无需重新定位感兴趣区域。

案例研究： Gerweck GmbH Oberflaechentechnik公司（德国Bretten-Goelshausen）

铝/硅（Al/Si）表面盐侵的图像（580 x 440微米）和LIBS光谱，可使用DM6 M LIBS解决方案获得。盐光谱（红色）与纯铝参考光谱（绿色）对比。由Gerweck GmbH提供。

转而使用徕卡显微系统公司DM6 M LIBS二合一解决方案的公司可以获得众多优势，Gerweck公司就是一个很好的例子。光学显微成像和激光诱导击穿光谱技术 (LIBS) 二合一的材料分析解决方案，除了可以同时实现图像观察和元素分析外，也可以用于深度剖面分析。 Gerweck提供各种材料的电子元件的表面加工和镀膜，包括金(Au)，银(Ag)，铜(Cu)和镍(Ni)。该公司经常收到客户提出的因质量问题要求索赔证明的请求，因此需要进行根本原因分析，其中包括将原材料与退回部件之间的比较。常见的问题根本原因是原材料受到污染，例如盐或润滑剂残留物引起的污染，或者表面缺陷。进行光学检查后，Gerweck需要在微观尺度下确定斑点的材料成分，从而对部件进行失效分析。对于汽车行业客户，应在10天内出具8D报告，其中包括根本原因分析和建议采取的应对措施。

在采用DM6 M LIBS解决方案之前，Gerweck将样本寄给一家外部实验室，他们使用扫描电子显微成像和能量色散谱 (SEM/EDS) 技术进行高级分析。这种外包方式增加了成本和样本处理时间。有时还需要其它外部实验室进行其他检测。该公司决定寻找一种不需要高级用户培训和样本制备，也不需要外部样本处理/分析的材料分析技术，从而全面节省时间和成本。新技术的终目标是能够轻松进行外观检验，表面形貌评估和定性分析。

Gerweck 开始使用DM6 M LIBS二合一解决方案后，获得检验结果的速度显著加快，例如工作周转时间缩短至不到一天，节省出的时间可以用来进行其他检验。这一优势意味着可以轻松地如期完成8D报告。另一项优势是降低分析成本。质量相关问题显著减少，并能在生产早期就识别到可能造成缺陷的根本原因，同样节省了成本。终结果是索赔数量减少。

“作为一家积极发展中的中型企业，我们认为拓展内部分析方法是很必要的。我们决定采用DM6 M LIBS材料分析解决方案是因为它兼具多功能和易用性。我们的目标是能够轻松通过光学进行外观检验，表面形貌评估和定性分析。

我们使用该仪器已超过一年，可以说它完全符合我们的期望。设备功能多，分析时间短，使这项投资的效益十分显著。

我们确实非常满意。

Hans-Ullrich Eckert 工艺技术开发经理 GERWECK GMBH OberflächentechnikBretten-Gölshausen（德国）