利用同步垂直双向观测 (SVDV) 提高分析效率并降低使用维护成本

Agilent 5900 同步垂直双向观测 (SVDV) ICP-OES 通过一系列操作、性能和分析效率方面的改善，颠覆了传统双向观测 ICP-OES 概念。专为希望gao效运行样品，并使每个样品分析的成本降到zui低的高样品通量实验室而设计。

5900 SVDV ICP-OES 包括独特的智能光谱组合 (DSC) 技术，该技术可在单次测量中采集并组合垂直等离子体发出的全波段范围内的轴向和径向光。5900 还包括高速Vista Chip II CCD 检测器和集成的 AVS 6/7 高级阀系统切换阀作为标配。这三种技术的结合造就了分析单个样品速度Z快、气体消耗量Z小的 ICP-OES。水平观测垂直炬管和冷锥接口 (CCI) 等其他功能使 5900 能够分析高盐样品、挥发性有机溶剂和腐蚀性样品基质。凭借在宽线性动态范围 (LDR) 内分析多个元素的能力，zui大程度减少了额外的样品稀释或同一样品多次读数的需要，进一步提高了样品通量。5900 SVDV ICP-OES 出色的稳定性可确保减少样品重新测量的需求，并zui大程度缩短仪器停机时间。