ICP-OES 分析高浓度钯(Pd)内的微量硒 (Se)

钯(Pd)是目前半导体超微镀金使用的非常重要的元素之一。由于是用于超微镀金，所以主要成分钯(Pd)的准确含量很重要，所含杂质的定量也非常重要。本文建立了利用ICP-OES分析高浓度钯(Pd)内的微量硒 (Se)的解决办法。