解决方案

利用XRF-1800的高次谱线分析刹车片实例

从样品发射的荧光X射线,由分光晶体分光为一次线X射线和高次线,并进入到检测器中将高次线范围的X射线,作为高次线峰,一次线范围的X射线作为一次线峰同时进行测定然后将一次线峰和高次线峰进行对比,可以方便的检查高次线的影响
利用X射线荧光的高次谱线分析,避免一次谱线的重合,使定性定量分析更为准确 波长色散型X射线荧光光谱仪

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