使用XRF-1800进行的膜厚测定薄膜测定实例

传统的基本参数法（FP）法只计算X射线荧光（净峰）的强度，而背景基本参数（BG-FP)法增加了散射X射线（背景）强度的计算
高分子薄膜分析中，利用康普顿散射线的理论强度作为高分子薄膜的信息
利用康普顿散射/瑞利散射的强度比计算出荧光X射线分析不能得到的氢元素的信息 波长色散型X射线荧光光谱仪