ICP-AES法检测工业硅八种杂质元素

本方法采用HF和HNO3(6:2) 微波消解工业硅样品，用ICP-AES 法同时测定工业硅中的CuMnFeNiTiAlP和B等八种杂质元素该方法快速简便准确率高精密度好，对产品质量控制及检验杂质元素含量，具有可操作性和很好地应用价值 全谱ICP发射光谱仪