镀层测厚仪在氮化铝陶瓷基板镀层领域的解决方案

深圳市善时仪器有限公司的iEDX-150T镀层测厚仪采用非真空样品腔，专业用于PCB电镀镀层分析、电路板镀层膜厚分析测试及其他领域镀层测厚，采用多种光谱拟合镀层分析处理技术，可同时分析镀层中的合金成分比例。

采用SDD探测器；可进行多镀层分析，Z多可达5层镀层，测试精度0.001μm；三维自动移动平台，多点分析功能，元素分析范围从Al~U。