薄膜材料无损检测-相变温度和热膨胀系数-光功率热分析仪

本仪器为无损检测，并可同时检测材料的相变温度和热膨胀系数OPA 的研发成功，一举填补了无损检测纳米级薄膜材料相变温度和热膨胀系数的国际性技术空白， 能测量低至5nm的薄膜材料 薄膜材料无损检测 光功率热分析仪 （OPA）