硅片少子寿命测试解决方案

可以测试较厚样品,测试寿命范围宽,无损检测
可灵敏地反映单晶体重金属污染及陷阱效应表面复合效应等缺陷情况WCT一个高度被看待的研究和过程工具QSSPC终身测量也产生含蓄的打开电路电压(对照明)曲线，与Z后的I-V曲线是可比较的在一个太阳能电池过程的每个阶段 Sinton+wct120+少子寿命测试仪+硅片测试+光伏