矢量图快速读出荧光寿命及内涵

介绍采用矢量图方法，解析采用频域荧光寿命测试技术，涉及寿命数值的拟合及意义
对比TCSPC，我们获得的是直接的衰减曲线，通过对衰减曲线的直观观察，在对数纵坐标情况下，直线或弧线，倾斜的差异，我们可以读出寿命的个数或者是寿命平均值的差异但是对于频域技术测试荧光寿命，我们获得是相差以及模的变化，无法直接给出寿命的判断，但是我们利用创造性的矢量图，可以快速直接得到寿命的细节信息，包括指数个数寿命的数值大小为进一步利用频域技术的快速测试打下基础，也是测试技术突破性进步 激光共聚焦荧光成像系统 FFS / FLIM HORIBA JY荧光寿命成像显微系统-FLIM