通过低能离子减薄仪制样方法提高透射电镜TEM分辨率

新一代SEM（扫描电镜）TEM（透射电镜）XTEM（X透射电镜）和FIB（聚焦离子束）样品制备设备：低能离子减薄仪！

常规的离子减薄仪离子源能量较大，非常容易破坏样品的微观结构，而且很难看到材料真实的自然状态下的纳米结构；
而该设备采用低能离子源，在有效避免样品的微观结构被损伤的基础上，大大提高了电镜图片的清晰度，进而可以更为清楚的将材料自然状态下的微观结构展现出来