使用Nirquest鉴别电路卡组件污染物

近红外分光学被用于一系列应用：从测定农产品的质量到研究宇宙新形成星体的成分当近红外与多变量校准技术结合的时候，就成为有力的分析工具一个单独的近红外光谱指纹图可以提供样品的详细信息在本应用说明中，NIRQuest512型近红外分光计被用于测定电路卡组件（CCA）污染物的特性，Z终， 查明CCA故障的根本原因