利用FT150h测量陶瓷芯片部件中Sn/Ni 双层膜

FT150h配备了新型聚光光学系以及升级后的Vortex?检测器，对于从前机种难以测量的微小范围，实现了同时高精度测量更厚的Sn与它下面的Ni，此份资料中介绍了针对陶瓷片式原器件的疑似样品，Ag上的Sn/Ni双层膜的同时测量的案例 日立 FT150系列 荧光X射线镀层膜厚测量仪