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利用FT150测量Au/Pd/Ni三层膜
发布:
日立分析仪器(上海)有限公司
时间:
2016-05-16
行业:
造纸/印刷/包装
印刷
本资料中,介绍了利用FT150对微小范围内Cu质地上薄的Au/Pd/Ni三层膜进行测量性能评价另外,FT9500X也可测量并进行结果比较 日立 FT150系列 荧光X射线镀层膜厚测量仪 日立 FT9300系列 X射线荧光镀层厚度测量仪
文件大小:
340.45KB
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