通过D-SwaferZX切割技术使用GC/MS研究溶剂中的杂质

气相色谱（GC）是分析溶剂中杂质的技术，再配上一台质谱检测器，就可以鉴定其中所含的杂质是什么由于许多溶剂都是通过分馏生产而得到，因此杂质将与溶剂具有相类似的沸点因而在GC分析中，杂质的保留时间将与溶剂接近，从而共流出的风险将非常高本文介绍了一种ZX切割技术，该技术允许所有注射的样品到达检测器，从而解决了溶剂峰分离度和潜在的检测器损坏的问题该技术同时提供了一个全面和可信的方法，以检测溶剂中低含量杂质 PerkinElmer气质联用仪