JEM-ARM300F2 原子分辨率分析型电子显微镜

"GRAND ARM™2更新了。实现在宽范围加速电压内，超高空间分辨率下高灵敏度分析。

主要特点

1. FHP2 新型物镜极靴

保证超高空间分辨率观察的同时，优化FHP物镜极靴的形状以满足大尺寸双SDDs（158mm2）的需求，x射线有效检测效率提高了两倍以上，实现亚埃级分辨率的EDS元素面分析。

2. 新型屏蔽体

TEM柱采用箱式外壳，可减少温度、气流、噪声等环境变化的影响，从而提高显微镜的稳定性。

3. ETA 校正器 & JEOL COSMO™

    快速准确的像差校正

4. 稳定性提高

CFEG采用小型SIP泵，快速提高真空度，提高了发射体附近的真空、发射电流、探针电流的稳定性。其他改进也提高了显微镜的稳定性和对各种干扰的抵抗力。

​JEM-ARM300F2是GRAND ARMTM 的第二代产品，该设备在性能上有了进一步的提高，无论采用怎样的加速电压都能获得超高空间分辨率图像和高灵敏度的元素分析。

主要特点

1.   超高空间分辨率下高灵敏度EDS分析

      标配新型物镜极靴FHP2 

   * 与之前的FHP相比，FHP2  x射线检测率提高2倍以上

   * 利用低色差和低球差系数的光学常数，无论采用怎样的加速电压都能获得超高空间分辨率和高灵敏度的x射线分析（STEM分辨率：53pm@300kV、96pm@80kV）

2.   可配备高灵敏度x射线分析的物镜极靴WGP

     采用大间隙WGP：

   * 大面积的SDD更接近样品，可以进行超高灵敏度的x射线分析（立体角2.2sr）

   * 可以使用厚的样品杆，进行各种各样的观察实验

3.   设备主体与球差校正器一体化 

   * 采用FHP2，300kV下，STEM空间分辨率53pm；

   * 采用WGP，300kV下，STEM空间分辨率59pm

4.   标配冷场发射电子枪 (Cold-FEG)

5.   配备减轻外部环境干扰（气流、室温、噪音）的外壳