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P-7 台阶仪

主营

台阶仪,X射线分析仪,薄膜厚度测量仪,椭偏仪,轮郭仪

P-7 台阶仪 核心参数
仪器分类: 电感式

P-7 Stylus Profiler

P-7支持从几纳米到一毫米的台阶高度测量,适用于生产和研发环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D3D测量,其扫描可达150mm而无需图像拼接。

 

 

产品描述

P-7建立在市场领先的P-17台式探针轮廓分析系统的成功基础之上。 它保持了P-17技术的卓越测量性能,并作为台式探针轮廓仪平台提供了极高的性价比。 P-7可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D3D测量,其扫描可达150mm而无需图像拼接。

 

主要功能

·       台阶高度:几纳米至1000μm

·       微力恒力控制:0.0350mg

·       样品全直径扫描,无需图像拼接

·       视频:500万像素高分辨率彩色摄像机

·       圆弧校正:消除由于探针的弧形运动引起的误差

·       软件:简单易用的软件界面

·       生产能力:通过测序,模式识别和SECS / GEM实现全自动化

 

主要应用

·       台阶高度:2D3D台阶高度

·       纹理:2D3D粗糙度和波纹度

·       形状:2D3D翘曲和形状

·       应力:2D3D薄膜应力

·       缺陷复检:2D3D缺陷表面形貌

工业应用

·       大学、研究实验室和研究所

·       半导体和化合物半导体

·       LED:发光二极管

·       太阳能

·       MEMS:微机电系统

·       数据存储

·       汽车

·       医疗设备

·       还有更多:请与我们联系以满足您的要求


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