F20 薄膜厚度测量仪
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F20 薄膜厚度测量仪

测量厚度从1nm到10mm的先进膜厚测量系统

不论您是想要知道薄膜厚度、光学常熟,还是想要知道材料的反射率和透过率,F20都能满足您的需要。仅需花费几分钟完成安装,通过USB连接电脑,设备就可以在数秒内得到测量结果。基于某模块化设计的特点,F20适用于各种应用:

 

• 测量厚度、折射率、反射率和穿透率:

-     单层膜或多层膜叠加

-     单一膜层

-     液态膜或空气层

• 不同条件下的测量,包括:

-     在平面或弯曲表面

-     光斑最小可达20微米

-     桌面式、XY坐标自动化膜厚测量,或在线配置

所有的这些功能都伴随着直观的软件界面以及我们即时的电话和互联网支持(24小时/每周5工作日)。这就是Filmetrics的优势!欢迎您试一试!

 

膜层范例

基本上所有光滑的、半透明的或低吸收系数的薄膜都可以测量。

这包括几乎所有的电介质与半导体材料,例如:

SiNX

TiO2

DLC

光刻胶SU-8

聚合物

有机电致发光器AIQ材料

非晶硅

ITO

硒化铜铟镓CIGS

                   

   

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厚度测量范围

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测量原理为何?

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软件功能以使用者为导向

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   其他的选用配件

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选择Filmetrics的优势

• 桌面式薄膜厚度测量的全球领导者

• 24小时电话,E-mail和在线支持

• 所有系统皆使用直观的标准分析软件

附 加 特 性

• 嵌入式在线诊断方式

• 免费离线分析软件

• 精细的历史数据功能,帮助用户有效地存储,重现与绘制测试结果

应用

半导体膜层                                  液晶显示器

 光刻胶                                      OLED

 加工膜层                                    玻璃厚度

 介电层                                      ITO和TCOs

光学镀层                                      生物医学

 硬涂层                                       聚对二甲苯

 抗反射层                                     医疗器械


测量厚度从1nm到10mm的先进膜厚测量系统如果您正在寻找一款仪器,需要测量厚度、测量光学常数或者仅需要测量材料的反射率和穿透率,F20您值得拥有。仅仅几分钟内就可以安装好,通过USB与电脑连接,测量数据结果不到一分钟就能得到。
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